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梅特勒XSR225DU分析天平

梅特勒XSR225DU分析天平

品牌: 梅特勒-電子天平-水分測定儀

型號: XSR225DU

市場報價:¥1

折扣價:請詢價

主要參數(shù):梅特勒XSR225技術參數(shù): 最大秤量:220g /121g 可讀性:0.1mg/0.01 mg 重復性測試載荷:0.02 mg (5 g) 最小稱量值(USP, 0.1%,典型值):20 mg 校正:內(nèi)部/ FACT 秤盤外形尺寸(寬x深):78 mm x 73 mm

報價單
詢價/訂購熱線:181-2137-8857 188-1653-8231  

產(chǎn)品介紹

詳細介紹

梅特勒XSR225DU產(chǎn)品介紹:

輕松連接

連接數(shù)據(jù)系統(tǒng)就象插入一根纜線那樣簡單。XSR天平可實現(xiàn)便捷無錯的數(shù)據(jù)傳送,并且與ENB/ERP和LIMS完全兼容,完美融入現(xiàn)有的信息系統(tǒng)。

易于清潔

天平防風罩的所有部件及SmartGrid秤盤均可在數(shù)秒內(nèi)拆卸, 送入實驗室洗碗機進行清潔,杜絕交叉污染,確保用戶安全性。

LabX的自動數(shù)據(jù)處理

LabX®軟件在天平觸摸屏上提供靈活的SOP用戶指南。LabX可實現(xiàn)自動數(shù)據(jù)處理、計算和報告,配有LabX的天平輕松滿足最高的過程安全和追溯需求。

ErgoClips易巧稱量件的一步加樣

ErgoClips易巧稱量件易于安裝,只需一個步驟即可直接加樣至去皮容器內(nèi)。不再需要稱量紙,加樣更加符合人體工程學。

梅特勒XSR225技術參數(shù):

最大秤量:220g /121g

可讀性:0.1mg/0.01 mg

重復性測試載荷:0.02 mg (5 g)

最小稱量值(USP, 0.1%,典型值):20 mg

校正:內(nèi)部/ FACT

秤盤外形尺寸(寬x深):78 mm x 73 mm

合法交易:適用

穩(wěn)定時間:1.5 s

重復性(典型值):0.01 mg

線性誤差(典型值)±:0.2 mg

尺寸:482 mm

尺寸 (高x寬):292 mm x 195 mm

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